您当前的位置:检测预警 > 栏目首页
正确的理解缺陷对材料性能的影响,不仅是材料基础研究的内容,在半导体、催化等工业应用中也极为重要。
2019/08/16 更新 分类:科研开发 分享
金刚石以其无与伦比的硬度和亮度而闻名,半个多世纪以来,珠宝首饰是它最广泛也是最有价值的用途,如今它又因自己的特性,在半导体材料中开辟了一番广阔的前景。
2024/05/29 更新 分类:行业研究 分享
近日,国家质检总局、国家标准委批准发布了《半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法》国家标准
2018/04/13 更新 分类:法规标准 分享
目前三星半导体和LCD工厂有200多名前员工患上了严重疾病,其中至少76人已经死亡。
2016/08/12 更新 分类:热点事件 分享
MOS管是金属(metal)—氧化物(oxide)—半导体(semiconductor)场效应晶体管,或者称是金属—绝缘体(insulator)—半导体。
2018/10/24 更新 分类:科研开发 分享
本文主要讲了芯片测试概述,芯片测试流程及测试中的问题。
2021/06/29 更新 分类:科研开发 分享
FIB系统广泛用于制备电路元件截面,以便电子显微镜等仪器的后续分析。
2023/03/31 更新 分类:检测案例 分享
中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点实验室刘明院士团队从理论方面提出了载流子的“集体输运效应”(collective transport)的物理机制。
2023/05/11 更新 分类:行业研究 分享
本文对FEoL阶段的相变(PCM)非易失性存储器数据保持模型进行研究
2024/10/26 更新 分类:科研开发 分享
本文对BEoL阶段的与时间相关的电介质击穿(TDDB)模型进行研究。
2024/10/27 更新 分类:科研开发 分享