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芯片的寿命试验HTOL（high temperature operation life）测试，曾经被认为某个芯片通过了HTOL 测试之后，就能够达到10年的寿命要求，其实不然。本文介绍了其主要原因。
2021/05/20 更新 分类：科研开发 分享
本文经过案例分析，得出结论：温度对储液壶使用寿命的影响小于压力对储液壶使用寿命的影响。
2021/11/16 更新 分类：检测案例 分享
某弹簧的疲劳寿命设计为100万次。在疲劳寿命测试18万次后发生断裂，本文对断裂弹簧进行分析，找到断裂原因，方便现场改善。
2022/01/15 更新 分类：检测案例 分享
本文主要介绍了可靠性和MTBF的定义及如何解读MTBF和可靠性。
2022/03/04 更新 分类：科研开发 分享
医疗器械包装货架寿命验证常见问题汇总
2022/04/22 更新 分类：科研开发 分享
家电产品的总开关寿命次数要求是10000还是30000次?
2022/08/05 更新 分类：法规标准 分享
平均无故障时间MTBF可靠性寿命试验常用检测标准清单
2023/01/06 更新 分类：科研开发 分享
本文通过介绍IGBT模块的结构、失效模式等说明热疲 劳是影响IGBT使用寿命的主要因素。
2023/05/12 更新 分类：科研开发 分享
本文对某电站锅炉炉管进行了化学成分分析、金相组织观察、硬度检验、机械性能检验、蠕胀分析和能谱分析，根据检测结果计算炉管剩余寿命，并对炉管状态做出综合评价。
2023/07/18 更新 分类：科研开发 分享
【问】进行电磁兼容试验时，如果设备配用附件（耗材）本身存在使用寿命限制，无法达到试验要求的持续时间，是否可更换同型号附件继续进行测试？
2023/12/07 更新 分类：法规标准 分享
