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  • 重金属检测方法汇总

    通常认可的重金属分析方法有:紫外可分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子荧光法(AFS)、电感耦合等离子体法(ICP)、X荧光光谱(XRF)、电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)分析,但对国内用户而言,仪器成本高。阳极溶出法,检测速度快,数值准确,可用于现场等环境应急检测。X荧光光谱(XRF)分析,优点是

    2022/06/18 更新 分类:科研开发 分享

  • 6大行业失效分析一网打尽!

    失效分析对产品的生产和使用都具有重要的意义,失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段,发生在产品研制阶段、生产阶段到使用阶段的各个环节,通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的失效产品明确失效模式、分析失效机理,最终明确失效原因。

    2015/10/23 更新 分类:实验管理 分享

  • LED灯具散热失效分析

    LED灯具样品在老化过程中出现如图1所示的失效现象:a、灯珠表面发黑;b、灯珠的封装胶体脱落;c、灯珠封装胶体发黑。客户要求分析失效现象产生的原因,并判断失效现象间是否存在联系。

    2016/03/10 更新 分类:实验管理 分享

  • 焊接失效分析

    焊接结构的失效形式有:脆性失效、塑性失效、疲劳失效、应力腐蚀失效等。下面就常见的几种失效的特征及断口特点作具体分析。

    2017/07/06 更新 分类:法规标准 分享

  • PCB/PCBA失效分析思路

    PCB在实际可靠性问题失效分析中,同一种失效模式,其失效机理可能是复杂多样的,因此就如同查案一样,需要正确的分析思路、缜密的逻辑思维和多样化的分析手段,方能找到真正的失效原因。

    2020/03/18 更新 分类:科研开发 分享

  • SiP组件中芯片失效机理与失效分析

    本文通过故障树分析方法,使用适合SiP产品形态的失效分析手段,讨论常见的管芯失效机理以及相应失效现象,并从设计和工艺角度提出降低各种失效机理发生的改进措施,作为SiP组件的可靠设计和生产的参考。

    2022/02/10 更新 分类:科研开发 分享

  • low K材料 IC 的裂纹失效模式初探

    产品出现早期失效,或安装后上电不正常,或运行几个月就失效。从时间角度看,属于早期失效。通过分析,是芯片失效,在边沿出现了裂纹,扩展到有源区造成功能失效。

    2024/04/25 更新 分类:科研开发 分享

  • 关于征求《食品中铅、砷、汞、镉、钡、铬、银、镍的测定 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)》等两项贵州省地方标准意见的函

    各有关单位: 由国家酒类及饮料质量监督检验中心(贵州省产品质量监督检验院)牵头起草的两项贵州省食品安全地方标准《食品中铅、砷、汞、镉、钡、铬、银、镍的测定 电感耦合

    2015/09/26 更新 分类:其他 分享

  • ICP-OES原理及前处理技术

    电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点,目前已广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。

    2022/04/12 更新 分类:科研开发 分享

  • 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定IC10高温合金中钽的含量

    研究人员优化了分析谱线和混合酸体系,采用盐酸+硝酸+氢氟酸体系溶解样品,加入柠檬酸防止高温合金中钨、铌等元素的水解,使用ICP-AES测定IC10高温合金中钽的含量。

    2024/08/02 更新 分类:科研开发 分享