本文介绍了电源地，信号地，还有大地，这三种地有什么区别及各种GND设计。

2023/04/12 更新 分类：科研开发 分享

对于模拟CMOS（互补对称金属氧化物半导体）而言，两大主要危害是静电和过压（信号电压超过电源电压）。了解这两大危害，用户便可以有效应对。

2023/05/07 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍TDK先进低ESL元件的各类车载电子设备解决方案。

2023/05/07 更新 分类：科研开发 分享

宽VIN降压 - 升压稳压器解决方案的优点在于其高电源抑制比（PSRR），提供优异的瞬态力学来衰减输入电压瞬变。

2023/05/22 更新 分类：科研开发 分享

本文接受了不同接地方案对EFT/B测试的影响进行举例分析。

2023/09/07 更新 分类：科研开发 分享

本文主要介绍开关电源的外壳该如何配置以及配置不当对辐射发射的影响。

2024/01/26 更新 分类：检测案例 分享

本文简述几种消解DC-DC的噪声的几种方法

2024/03/04 更新 分类：科研开发 分享

寄生参数主要来自于器件本身、PCB Layout设计、结构设计等，寄生参数引起的高频振荡、寄生电流环路是导致开关电源辐射发射问题的重要原因。

2024/04/17 更新 分类：科研开发 分享

GJB151B常见问题解答

2024/09/14 更新 分类：法规标准 分享

本文主要举例分析产品内部信号线与电源线混合布线造成的EFT/B测试超标现象、原因分析，解决措施，思考与启示。

2024/09/23 更新 分类：检测案例 分享