ESD测试标准

     静电放电对电子产品会造成严重的危害，所以国际上很早就对静电放电展开了研究，并制订了对电子产品规范化的测试标准《IEC61000-4-2》，为提高电子产品的可靠性起到了重要的作用。    

     我国在加入世贸以来，也致力跟进步伐向世界的科技前沿国家靠拢，在国际电工委员会制订的ESD测试标准的基础上制订了国内测试标准《GB/T 17626.2》

ESD静电放电波形

ESD测试是最常见的EMC测试之一，标准中测试结果评定分成四个级别：

a）在制造商、委托方或购买方规定的限值内性能正常。</p>

b）功能或性能暂时丧失或降低，但在骚扰停止后能自行恢复，不需要操作者干预。</span>

c）功能或性能暂时丧失或降低，但需操作者干预才能恢复。</p>

d）因设备硬件或软件损坏，或数据丢失而造成不能恢复的功能丧失或性能降低。

    在ESD测试过程中，最容易出现的问题是受试产品死机或重启，重启问题只要客户能接受是没有问题的，出现死机问题只要设置看门狗程序（watchdog），受试设备也可以自动重启。但是在ESD测试中经常会出现，设备芯片或芯片的I/O口被静电击穿，造成受试设备不可恢复的问题。

ESD测试等级

     ESD测试整改是让很多工程师门头痛的问题，因为无法测得其电路中的静电电压，就无法知道它的冲击路径，总让人感觉无迹可循琢磨不透。其实不然，静电同样具有“电”往低处流的特性，只是静电放电时间快而短，常言道天下武学唯快不破，而我们的经验还没有适应其快而短打法。

ESD测试整改有三个基本理论：

其一是“泄”，以柔克刚，四两拨千斤。

其二是“挡”，一夫当关，万夫莫开。 

其三是“箝”，三十六计，以巧取胜。

Type-c静电放电保护方案

     在实际应用中“泄”最为广泛，只要在受试设备内部设置泄放路径，便可将其收服。“挡”的应用也非常受工程师们的喜爱，比如用磁隔离、光电隔离、电容隔离、滤波器等。当静电对芯片通信口、I/O口、控制口击穿时，“箝”的作用也是非常重要的。

以上提供三个ESD测试整改思路，无论什么办法，能把解决问题的，就是好办法。