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  • 可靠性测试中的HALT实验与HASS实验

    可靠性测试中的HALT实验与HASS实验 HALT HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。

    2015/11/26 更新 分类:实验管理 分享

  • 可靠性鉴定试验的鉴别比越大越好吗

    产品可靠性的合同指标一般包括规定值和最低可接受值。规定值是合同和研制任务书中规定的期望达到的指标,是承制方进行可靠性设计的依据。

    2019/03/21 更新 分类:科研开发 分享

  • 降低可靠性指标验证费用的工程方法

    本文提出了包括内外场结合法、加速可靠性试验法、合并试验剖面法等多种工程方法,来降低承研单位的可靠性验证费用支出,并结合案例阐明了本文方法的有效性。

    2020/02/26 更新 分类:科研开发 分享

  • 基于锂电池环境试验设备的安全性试验

    本文结合锂电池燃烧爆炸特性对锂电池环境试验设备设计了压力释放装置动作测试、灭火装置灭火、电池爆炸试验等多项安全性试验方法及结果判定。

    2023/04/21 更新 分类:科研开发 分享

  • 什么是盐雾腐蚀试验,盐雾试验用哪些检测标准进行测试

    盐雾试验是一种主要利用盐雾试验设备所创造的人工模拟盐雾环境条件来考核产品或金属材料耐腐蚀性能的环境试验。

    2024/03/11 更新 分类:科研开发 分享

  • 温度循环试验和温度冲击试验差异

    温度循环试验和温度冲击试验都是电工电子类产品使用频次较高的两个气候环境适应性检测项目,主要考核产品或部件在温度急剧变化条件下的环境适应性能力。

    2024/08/26 更新 分类:科研开发 分享

  • LED芯片寿命试验过程全解析

    LED具有体积小,耗电量低、长寿命环保等优点,在实际生产研发过程中,需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行*价,并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平,以保证LED芯片质量。

    2016/04/27 更新 分类:实验管理 分享

  • 图解快速温变循环强化试验剖面

    在可靠性强化试验中,快速温变循环是常用的强化试验。

    2016/08/03 更新 分类:实验管理 分享

  • LED芯片寿命试验过程解析

    LED具有体积小,耗电量低、长寿命环保等优点,在实际生产研发过程中,需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平,以保证LED芯片质量。

    2020/08/18 更新 分类:科研开发 分享

  • 可靠性试验之“汽车电子DV试验”

    本文主要介绍汽车电子设计中的DV试验,测试主要包括电气负载、机械负载、温度负载、气候负载、化学负载、连接器、防护类、禁限用物质、EMC等等,同时还包括DV软件。

    2022/02/07 更新 分类:科研开发 分享