AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。AFM制样时，对样品导电与否没有要求，因此测量范围比较广泛。

2019/09/16 更新 分类：科研开发 分享

高分辨透射电镜（HRTEM）粉末样品要求、送样品前的准备工作、粉末样品的制备、块状样品制备

2019/09/06 更新 分类：实验管理 分享

黄晓旭团队经过十多年的不懈努力，在国家重点研发计划等项目的支持下，成功开发了一系列基于电子衍射的三维透射电镜技术，空间分辨率1nm。

2023/12/04 更新 分类：科研开发 分享

近期，中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心先进炭材料研究部研究人员与日本国立材料科学研究所汤代明研究员、韩国蔚山国立科技大学丁峰教授等团队合作，采用封闭腔体环境透射电子显微镜，在原子尺度上原位研究了Co-W-C合金催化剂在常压条件下生长碳纳米管的过程，确定其催化活性相为立方晶系η-碳化物单相，观察到了合金催化剂纳米颗粒的相对转动，发现了

2022/12/14 更新 分类：科研开发 分享

诞生了国际三大无卤标准：日本电子电路工业会(Electronics Packaging and Circuits Association)的JPCA-ES-01-2003、国际电工委员会(International Electrotechnical Commission)的IEC 61249-2-21和美国电子工业联接协会(Interconnecting and Packaging Electronic Circuits)的IPC 4101B。

2016/05/18 更新 分类：法规标准 分享

TEM、SEM测试常见问题汇总。

2022/09/04 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了TEM制样常见的7个问题。

2022/09/13 更新 分类：实验管理 分享

关于TEM和SEM测试问题锦集

2023/06/07 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了分析TEM复杂电子衍射花样中的标定原理。

2023/10/10 更新 分类：科研开发 分享

2017 年 2 月 9 日，加拿大卫生部、 Mandolyn Electronic Technology 和 ESIC Technology Inc. 联合宣布对中国产线电压温控器实施扩大召回。

2017/02/16 更新 分类：监管召回 分享