AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。AFM制样时，对样品导电与否没有要求，因此测量范围比较广泛。具体流程如下图所示：

　　AFM应用技术举例

　　AFM可以在大气、真空、低温和高温、不同气氛以及溶液等各种环境下工作，且不受样品导电性质的限制，因此已获得比STM更为广泛的应用。主要用途：

　　1. 导体、半导体和绝缘体表面的高分辨成像

　　2. 生物样品、有机膜的高分辨成像

　　3. 表面化学反应研究

　　4. 纳米加工与操纵

　　5. 超高密度信息存储

　　6. 分子间力和表面力研究

　　7 摩擦学及各种力学研究

　　8 在线检测和质量控制

表面原子搬运