北京微电子器件高低温振动沙尘盐雾试验

机械工业仪器仪表综合技术经济研究所检测中心可以依据GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》标准对各类军 用微电子器件进行试验，并出具国家认可的检测报告。 本标准规定了军 用微...

检测机构：机械工业仪器仪表综合技术经济研究所 更多相关信息>>

整流二极管中正向直流电压的检测

检测项：正向直流电压 检测样品：整流二极管 标准：GB/T4023-2015/7.1.2 半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

微电子材料中砷化镓单晶AB微缺陷的检测

检测项：砷化镓单晶AB微缺陷 检测样品：微电子材料 标准：GB/T18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法

检测机构：国家材料分析检测中心 更多相关信息>>

电子元器件中外部检查的检测

检测项：外部检查 检测样品：电子元器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

半导体集成电路中内部目检的检测

检测项：内部目检 检测样品：半导体集成电路 标准：合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范GJB7400-2011

检测机构：中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：最高额定工作 温度下的静态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：25℃下的 动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：最高额定工作 温度下的动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：阈值试验 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：外壳绝缘 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：两个或三个引出端之间电测试 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：返回电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：过负载试验 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：电寿命试验 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：镀层厚度 检测样品：混合集成电路 标准：1、GJB 2438A-2002 混合集成电路总规范 2、GJB 548A－1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 5、SJ 20645

检测项：频率范围 fL-H 检测样品：混合集成电路 标准：1、GJB 2438A-2002 混合集成电路总规范 2、GJB 548A－1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 5、SJ 20645

检测项：插入损失Li 检测样品：混合集成电路 标准：1、GJB 2438A-2002 混合集成电路总规范 2、GJB 548A－1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 5、SJ 20645

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：温度循环 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：老炼试验 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>