X射线衍射

XRD 即X-Ray Diffraction（X射线衍射）的缩写。是通过对物质（晶体）进行X射线衍射，分析其衍射图谱，从中获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

物相分析法

Ｘ射线晶体照射晶体时产生的衍射具有一定的特征，可用衍射线的方向及强度表征，根据衍射特征来鉴定晶体物相的方法称为物相分析法。

方法依据：晶体的Ｘ射线衍射图像实质上是一种精细而复杂的晶体微观结构变换，每一种晶体的结构与其Ｘ射线衍射图之间都有着一一对应的关系， X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化。

X射线衍射在金属材料检测中运用最多的方面，是针对物质中各组成成分进行鉴定，方法分为定性分析和定量分析。前者可确定材料中存在的物相；后者可确定材料中各物质的含量。

XRD 分析说明

XRD 分析为定性半定量的结果，在进行具体样品分析时，可结合ICP-OES、碳硫分析仪、氧氮分析仪等设备对元素准确定量，综合分析可提高样品定量的准确性。

可分析样品：

多晶粉末、金属、化合物、有一定结晶的高分子材料、塑料中的无机填料等晶体物质。

常用测试标准：

• JIS K0131-1996   X射线衍射分析通则

• JY/T 009-1996    转靶多晶体X射线衍射方法通则

1定性分析案例（1）

•   物相名称：Triphylite, syn

•   分子式：LiFe(PO4 ) 

•   数据库卡号:00-081-1173 

•   结论：此样品含有磷酸铁锂。

2定性分析案例（2）

•   此样品中所含的二氧化钛为金红石型。

3定量分析案例（1）

4定量分析案例（2）