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  • pcb失效分析技术

    随着电子信息产品的小型化以及无铅无卤化的环保要求,PCB也向高密度高Tg以及环保的方向发展。但是由于成本以及技术的原因,PCB在生产和应用过程中出现了大量的失效问题,并因此引发了许多的质量纠纷。为了弄清楚失效的原因以便找到解决问题的办法和分清责任,必须对所发生的失效案例进行失效分析。

    2020/11/18 更新 分类:科研开发 分享

  • PCB可靠性问题失效分析思路

    PCB在实际可靠性问题失效分析中,同一种失效模式,其失效机理可能是复杂多样的,因此就如同查案一样,需要正确的分析思路、缜密的逻辑思维和多样化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此过程中,任何一个环节稍有疏忽,都有可能造成“冤假错案”。

    2020/07/09 更新 分类:科研开发 分享

  • 金属失效常见类型与金属失效常用分析手段

    通过失效分析,找出失效原因,提出有效改进措施以防止类似失效事故的重复发生,从而保证工程的安全运行是必不可少的。

    2017/05/17 更新 分类:法规标准 分享

  • 电子微组装封装的功能和分级

    电子微组装封装技术,是用于电子元器件、电子微组装组件(HIC、MCM、SiP等)内部电互连和外部保护性封装的重要技术,它不仅关系到电子元器件、电子微组装组件自身的性能和可靠性,还影响到应用这些产品的电子设备功能和可靠性,特别是对电子设备小型化和集成化设计有着重要影响。

    2021/02/16 更新 分类:科研开发 分享

  • DPA破坏性物理分析简介

    DPA分析(DestructivePhysical Analysis)即破坏性物理分析,它是在电子元器件成品批中随机抽取适当样品,采用一系列非破坏和破坏性的物理试验与分析方法,以检验元器件的设计、结构、材料、工艺制造质量是否满足预定用途的规范要求。

    2017/07/06 更新 分类:法规标准 分享

  • 芯片FEoL阶段的表面反转(mobile ions)失效模式

    本文对FEoL阶段的表面反转(mobile ions)失效模式进行研究

    2024/10/15 更新 分类:科研开发 分享

  • EMMI技术的GaAs多功能芯片的失效分析

    通过GaAs多功能芯片的失效分析,揭示了芯片失效的机理,并提出了针对性的工艺改进措施,以提高芯片的可靠性和性能。

    2024/09/04 更新 分类:科研开发 分享

  • 汽车用继电器常见失效类型分析

    本文将通过汽车用继电器的选型、继电器的失效案例总结分析几种常见的失效模型,以期在车型的继电器使用中规避潜在的失效风险,提高整车电器的可靠性。

    2024/03/26 更新 分类:科研开发 分享

  • 国产元器件降额参数、降额等级与降额因子速查手册

    国产元器件降额参数、降额等级与降额因子 元器件种类 降 额 参 数 降 额 等 级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ 电源电压 0.70 0.80 0.80 输入电压 0.60 0.70 0.70 放大器 输出电流 0.70 0.80 0.80 功 率 0.70 0.75 0.80 最高结

    2020/02/27 更新 分类:科研开发 分享

  • 电芯循环失效分析流程探讨

    电芯失效分析的工作需要有较为清晰的逻辑思维能力,同时需要较为丰富的研发和生产经验。对于刚开始从事电芯开发的小伙伴来说,失效分析不失为一个锻炼提升思维能力的好方法。

    2020/09/24 更新 分类:科研开发 分享