材料的表面分析技术主要有3种：俄歇电子能谱分析（AES）、X射线光电子能谱分析(XPS) 、原子力显微镜（AFM），今天主要对比学习前两种。

2020/07/13 更新 分类：实验管理 分享

晶体在不同的应力状态下，其滑移方式不同。根据原子的滑移方向和位错线取向的几何特征不同，位错分为刃位错、螺位错和混合位错。

2020/12/19 更新 分类：科研开发 分享

立体异构体是指原子组成及连接方式相同，而其三维空间排列不同的分子。

2022/03/28 更新 分类：科研开发 分享

本研究通过在原子水平上控制现有二维半导体的晶体结构，将其转化为一维 MTB，实现了一维 MTB 金属相。

2024/07/05 更新 分类：科研开发 分享

建立电感耦合等离子体发射光谱法测定超级马氏体耐热钢中的硼含量。

2024/11/11 更新 分类：科研开发 分享

波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。由此研发的两种XRF：波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），两种仪器有哪些区别与联系，成为了XRF使用人员的都应该知道的基础知识。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。

2021/07/07 更新 分类：科研开发 分享

目前主要的水分测定方法有包括1.干燥法2.卡尔费休法3.气相色谱法4.红外吸收光谱法。下面主要针对上述方法进行分享。

2024/01/29 更新 分类：实验管理 分享

欧盟于2020年8月3日发布关G/TBT/N/EU/731号通报，公布了有关修订欧洲议会和理事会第（EC）1907/2006号法规（即REACH法规）附件XVII第68项关于链中含9至14个碳原子的全氟羧酸（简称C9-C14 PFCA）、其盐和相关物质的限制要求的草案。

2020/08/12 更新 分类：法规标准 分享

来自山东大学的高学平和张爱敏两位研究人员在半导体材料表征中遇到能谱测试结果异常现象，异常现象产生原因可能与加速电压、电子束流、元素含量、原子序数、设备灵敏度等多种因素有关。为了准确了解异常现象产生的原因，并提出合理的解释，研究人员利用原子力显微镜(AFM)，蒙特卡洛模拟(Monte Carlo Simulation)软件以及扫描电镜配置的能谱仪等设备对此异常现象进行了分析

2020/10/14 更新 分类：实验管理 分享

通常认可的重金属分析方法有：紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、Ｘ荧光光谱（XRF）、电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）分析，但对国内用户而言，仪器成本高。阳极溶出法，检测速度快，数值准确，可用于现场等环境应急检测。Ｘ荧光光谱（XRF）分析，优点是

2022/06/18 更新 分类：科研开发 分享