可靠性测试中的HALT实验与HASS实验 HALT HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。

2015/11/26 更新 分类：实验管理 分享

汽车是由多达几千个电子零部件组成的复杂产品，随着汽车产业的发展，功能越来越齐全，而这些电子零部件产品可靠性十分重要，它也直接决定了整车的安全及运行可靠性。

2024/01/02 更新 分类：科研开发 分享

本文对依据GJB 899A-2009实施的可靠性试验和依据GJB/Z141-2004的软件测试，进行了比较和分析，针对其对软件密集型装备可靠性试验的薄弱环节，研究提出一种考虑软件工作载荷的可靠性综合试验剖面设计技术，并通过某型装备进行了应用试验验证。

2021/09/01 更新 分类：法规标准 分享

测试系统采用的测试方法取决于测试系统的性能指标，诸如非线性度、精度、分辨率、误差、零漂、温漂及可靠性等。 在上述测试系统性能指标确定后，根据成本预算、人机界面、测量模块与其他模块的界面要求选择测试方法。这里以旋转设备为例来说明测试方式的确定。

2019/08/29 更新 分类：检测案例 分享

业界同行对LED光源的可靠性和成本问题比较重视，均在努力解决之中。本文也将着重对这两个问题进行较为详细的描述及分析。

2020/01/19 更新 分类：法规标准 分享

作为您可靠的质量服务合作伙伴,，本中心提供纺织品可靠性试验，以确保你的产品质量。

2017/04/22 更新 分类：实验管理 分享

芯片的寿命试验HTOL（high temperature operation life）测试，曾经被认为某个芯片通过了HTOL 测试之后，就能够达到10年的寿命要求，其实不然。本文介绍了其主要原因。

2021/05/20 更新 分类：科研开发 分享

该文对三种Tg测试方法、测试原理及各自优劣进行了比较；分析了板材Tg值对PCB可靠性的影响，以及Tg的影响因素。

2021/06/15 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了浪涌测试及其意义，国内外SiC MOSFET浪涌性能的研究现状及浪涌测试原理概述等。

2023/03/17 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了使用动态栅极应力(Dynamic Gate Stress, DGS)测试过程对基于SiC的功率半导体进行新型可靠性测试的意义。

2024/03/20 更新 分类：科研开发 分享