您当前的位置：检测预警 > 栏目首页
本文经过案例分析，得出结论：温度对储液壶使用寿命的影响小于压力对储液壶使用寿命的影响。
2021/11/16 更新 分类：检测案例 分享
什么是DPA，DPA的目的，DPA分析技术的适应对象，电子元器件质量提升及失效分析及电子元器件进行DPA的关键节点。
2021/12/03 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了用于密封微电子封装的各种缺陷和失效分析技术的基本信息，并重点介绍了塑封缺陷和失效的相关技术。
2022/01/21 更新 分类：科研开发 分享
本文主要介绍了什么是相关性分析，常用的相关性分析方法及故障模式的相关性分析。
2022/02/13 更新 分类：科研开发 分享
端子线检测一般涉及以下几个项目：插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试 、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试 、混合气体腐蚀测试等。
2022/06/10 更新 分类：科研开发 分享
国家药监局GMP飞行检查和跟踪检查公布的实验室数据可靠性缺陷
2022/09/06 更新 分类：监管召回 分享
用架构设计提升电子产品可靠性的方法
2022/12/01 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了电子元器件的选择与控制及零部件和原材料的选择与控制。
2023/05/04 更新 分类：科研开发 分享
本文通过介绍IGBT模块的结构、失效模式等说明热疲 劳是影响IGBT使用寿命的主要因素。
2023/05/12 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了电子可靠性设计原则、规范、可靠性测试、元器件选型及元器件失效机理与分析方法。
2023/05/17 更新 分类：科研开发 分享
