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  • 半导体材料表征能谱测试结果异常原因分析

    来自山东大学的高学平和张爱敏两位研究人员在半导体材料表征中遇到能谱测试结果异常现象,异常现象产生原因可能与加速电压、电子束流、元素含量、原子序数、设备灵敏度等多种因素有关。为了准确了解异常现象产生的原因,并提出合理的解释,研究人员利用原子力显微镜(AFM),蒙特卡洛模拟(Monte Carlo Simulation)软件以及扫描电镜配置的能谱仪等设备对此异常现象进行了分析

    2020/10/14 更新 分类:实验管理 分享

  • 医用植入物表面仿生自吸附涂层的润滑与抑菌性能研究

    本研究采用无规共聚法合成了多巴胺-磷酰胆碱聚合物(DMA-MPC),并利用多巴胺辅助共沉积的方式在钛合金(Ti6Al4V)表面构建了仿生自吸附聚合物涂层,获得了兼具增强润滑和抑菌粘附的材料,进而基于原子力显微镜(AFM)从微观层面研究了细菌与涂层间的相互作用,提出了基于水合斥力的抑菌机理。

    2021/06/17 更新 分类:科研开发 分享

  • 牛津大学利用原子分辨率扫描透射电子显微镜揭秘钙钛矿微观结构

    本文提供了杂化卤化铅钙钛矿原子层次的理解,揭示了其性能卓越背后的机理。钙钛矿结构对有机阳离子损失的高度适应性使部分降解材料具有特殊的再生性能。这种原子局部化的信息,使得有针对性的设计方法来消除缺陷和优化这些材料的界面。

    2020/11/01 更新 分类:科研开发 分享

  • 射电子显微镜TEM的原理,样品制备等基本知识介绍

    透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。

    2020/09/25 更新 分类:实验管理 分享

  • 原位(in-situ)透射电子显微学简介

    原位透射电子显微学(in-situ TEM)是指直接在原子层次观察样品在力、热、电、磁作用下以及化学反应过程中的微结构演化及进行表征的过程,近年来成为材料研究的热门领域。

    2019/04/16 更新 分类:实验管理 分享

  • 金相显微镜与扫描电镜的区别

    两种显微镜存在很大的区别

    2016/11/13 更新 分类:实验管理 分享

  • 高熔点合金催化剂生长碳纳米管机理研究取得新进展

    近期,中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心先进炭材料研究部研究人员与日本国立材料科学研究所汤代明研究员、韩国蔚山国立科技大学丁峰教授等团队合作,采用封闭腔体环境透射电子显微镜,在原子尺度上原位研究了Co-W-C合金催化剂在常压条件下生长碳纳米管的过程,确定其催化活性相为立方晶系η-碳化物单相,观察到了合金催化剂纳米颗粒的相对转动,发现了

    2022/12/14 更新 分类:科研开发 分享

  • 透射电子显微镜(TEM)表征物质结构

    透射电子显微镜(TEM)表征物质结构

    2017/08/16 更新 分类:实验管理 分享

  • 扫描电子显微镜(SEM)样品制备要求

    扫描电子显微镜(SEM)之样品制备

    2017/09/25 更新 分类:热点事件 分享

  • 电子扫描显微镜在材料检测领域的应用

    电子扫描显微镜在材料检测领域的应用

    2018/12/20 更新 分类:科研开发 分享