本文介绍TDK先进低ESL元件的各类车载电子设备解决方案。

2023/05/07 更新 分类：科研开发 分享

宽VIN降压 - 升压稳压器解决方案的优点在于其高电源抑制比（PSRR），提供优异的瞬态力学来衰减输入电压瞬变。

2023/05/22 更新 分类：科研开发 分享

本文接受了不同接地方案对EFT/B测试的影响进行举例分析。

2023/09/07 更新 分类：科研开发 分享

本文主要介绍开关电源的外壳该如何配置以及配置不当对辐射发射的影响。

2024/01/26 更新 分类：检测案例 分享

本文简述几种消解DC-DC的噪声的几种方法

2024/03/04 更新 分类：科研开发 分享

寄生参数主要来自于器件本身、PCB Layout设计、结构设计等，寄生参数引起的高频振荡、寄生电流环路是导致开关电源辐射发射问题的重要原因。

2024/04/17 更新 分类：科研开发 分享

GJB151B常见问题解答

2024/09/14 更新 分类：法规标准 分享

本文主要举例分析产品内部信号线与电源线混合布线造成的EFT/B测试超标现象、原因分析，解决措施，思考与启示。

2024/09/23 更新 分类：检测案例 分享

硬件电路设计总结主要包括以下几个主要的模块：电源 模块，存储模块，显示模块，和对外接口模块。

2024/10/06 更新 分类：科研开发 分享

电压跌落试验（DIP）是电磁兼容性（EMC）测试中的一项重要内容，旨在评估电气和电子设备在电源电压突然下降时的性能稳定性和适应性。

2024/11/09 更新 分类：科研开发 分享