某连接器夏天存放的时候在表面会出现一些白点，而且白点一般从无到有，并会慢慢的长大。检测机构对白点的成分进行分析，鉴于表面异物含量比较少，所以采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)的分析手段。

分析方法简述

        TOF-SIMS是一种有效的表面分析手段，能检测氢在内的所有元素及同位素，并能分析有机物的官能团。所以对样品表面进行TOF-SIMS分析，失效点（产生白点的位置）和正常位置的测试结果如下图所示，由谱图可知，相比正常位置，失效点含有较高的Cl和Br。由此推断：失效点含有较高含量的Cl和Br（极性强，易吸湿），在夏季湿热的环境下，吸潮形成电解液，产生电化学腐蚀，导致连接器表面产生白点，随着腐蚀加深，白点慢慢扩散、变大。这可能是引起该连接器产生白点的主要原因。

样品测试结果图片