1

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

现行

2

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

现行

3

GB/T 2423.3-2016

环境试验 第2部分：试验方法　试验Cab：恒定湿热试验

现行

4

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db 交变湿热（12h＋12h循环）

现行

5

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分：试验方法　试验Ea和导则：冲击

现行

6

GB/T 2423.7-2018

环境试验 第2部分：试验方法  试验Ec:粗率操作造成的冲击（主要用于设备型样品）

现行

7

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分：试验方法　试验Fc：振动(正弦)

现行

8

GB/T 2423.15-2008

电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法  试验Ga和导则: 稳态加速度

现行

9

GB/T 2423.16-2022

环境试验 第2部分：试验方法　试验J和导则：长霉

现行

10

GB/T 2423.17-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾

现行

11

GB/T 2423.18-2021

环境试验 第2部分：试验方法　试验Kb：盐雾,交变(氯化钠溶液)

现行

12

GB/T 2423.19-2013

环境试验 第2部分：试验方法  试验Kca：高浓度二氧化硫试验

现行

13

GB/T 2423.20-2014

环境试验 第2部分：试验方法　试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验

现行

14

GB/T 2423.21-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压

现行

15

GB/T 2423.22-2012

环境试验 第2部分：试验方法　试验N：温度变化

现行

16

GB/T 2423.23-2013

环境试验 第2部分：试验方法　试验Q：密封

现行

17

GB/T 2423.24-2022

环境试验 第2部分：试验方法　试验S：模拟地面上的太阳辐射及太阳太阳辐射试验和气候老化试验导则

现行

18

GB/T 2423.27-2020

环境试验 第2部分：试验方法  试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验

现行

19

GB/T 2423.28-2005

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验T：锡焊

现行

20

GB/T 2423.30-2013

环境试验 第2部分：试验方法　试验XA和导则：在清洗剂中浸渍

现行

21

GB/T 2423.32-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ta：润湿称量法可焊性

现行

22

GB/T 2423.33-2021

环境试验 第2部分：试验方法　试验Kca：高浓度二氧化硫试验

现行

23

GB/T 2423.34-2012

环境试验 第2部分：试验方法　试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验

现行

24

GB/T 2423.35-2019

环境试验 第2部分：试验和导则 气候（温度、湿度）和动力学（振动、冲击）综合试验

现行

25

GB/T 2423.37-2006

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验

现行

26

GB/T 2423.38-2021

环境试验 第2部分：试验方法　试验R：水试验方法和导则

现行

27

GB/T 2423.39-2018

环境试验 第2部分：试验方法　试验Ee和导则：散装货物试验包含弹跳

现行

28

GB/T 2423.40-2013

环境试验 第2部分：试验方法  试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热

现行

29

GB/T 2423.41-2013

环境试验 第2部分：试验方法　风压

现行

30

GB/T 2423.43-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 振动、冲击和类似动力学试验样品的安装

现行

31

GB/T 2423.45-2012

环境试验 第2部分：试验方法　试验Z/ABDM：气候顺序

现行

32

GB/T 2423.47-2018

环境试验 第2部分：试验方法　试验Fg：声振

现行

33

GB/T 2423.48-2018

环境试验 第2部分：试验方法　试验Ff:振动　时间历程和正弦拍频法

现行

34

GB/T 2423.50-2012

环境试验 第2部分：试验方法  试验Cy: 恒定湿热 主要用于元件的加速试验

现行

35

GB/T 2423.51-2020

环境试验 第2部分：试验方法　试验Ke：流动混合气体腐蚀试验

现行

36

GB/T 2423.52-2003

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验77：结构强度与撞击

现行

37

GB/T 2423.53-2005

电工电子产品环境试验 第2部分  试验方法 试验Xb 由手的摩擦造成标记和印刷文字的磨损

现行

38

GB/T 2423.54-2022

环境试验 第2部分：试验方法　试验Xc：流体污染

现行

39

GB/T 2423.55-2023

环境试验 第2部分：试验方法　试验Eh：锤击试验

现行

40

GB/T 2423.56-2023

环境试验 第2部分：试验方法  试验Fh：宽带随机振动和导则

现行

41

GB/T 2423.57-2008

电工电子产品环境试验 第2-81部分 试验方法 试验Ei 冲击 冲击响应谱合成

现行

42

GB/T 2423.58-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fi：振动　混合模式

现行

43

GB/T 2423.59-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合

现行

44

GB/T 2423.60-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验U：引出端及整体安装件强度

现行

45

GB/T 2423.61-2018

环境试验 第2部分：试验方法  试验和导则：大型试件砂尘试验

现行

46

GB/T 2423.62-2018

环境试验 第2部分：试验方法　试验Fx和导则：多输入多输出振动

现行

47

GB/T 2423.63-2019

环境试验 第2部分：试验方法  试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验

现行

48

GB/T 2423.64-2023

环境试验 第2部分：试验方法　试验Fj：振动　长时间历程再现

现行

49

GB/T 2423.101-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：倾斜和摇摆

现行

50

GB/T 2423.102-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合