寿命试验是可靠性试验中最重要、最基本的内容之一。它是将样品放在特走的试验条件下，测量其失效（损耗）的数量随时间的分布情况。因为失效是按先后次序出现的，所以可利用次序统计量理论来分析寿命试验数据，从而可以确定产品的寿命特征、失效分布规律，计算产品的失效率和平均寿命等可靠性指标。此外，还可以从中确定产品合理的可靠性筛选工艺及条件，进一步改

2021/01/23 更新 分类：科研开发 分享

研究人员对XtackingTM键合界面进行了可靠性测试验证。结果表明，经过超长时间的热应力及湿热应力（如7000小时）后，键合界面表现出了稳定的电性能和良好的粘结强度，远高于行业的一般要求（如1000小时）。此外，在长时间温度循环试验后的拉力测试也进一步证明了键合界面具有良好的强度和电气稳定性。

2022/03/14 更新 分类：科研开发 分享

为社会提供公证数据的产品质量检验机构，必须经省级以上人民政府计量行政部门对其计量检定、测试能力和可靠性考核合格，这种考核称为计量认证。环境监测站作为出具各类监测数

2017/04/22 更新 分类：其他 分享

为了有效地按捺搅扰，进步仪器设备作业的可靠性，在底层修理人员中宣传、普及抗电磁搅扰常识，特别是抗电源线上的电磁搅扰常识尤为重要。

2019/07/26 更新 分类：科研开发 分享

为大家介绍下集成电路材料的主要性能参数

2020/07/21 更新 分类：科研开发 分享

SCR里有很多问题，是跟用户体验相关的。而如果们再继续去剖析，实际上有很大一部分是产品的可靠性、保障性、测试性等等不足。

2022/12/30 更新 分类：科研开发 分享

本文作者从软包装锂离子电池铝塑膜腐蚀机理出发，比较边电压和边电阻测试筛选控制腐蚀的可靠性、可行性，并给出腐蚀最优控制条件。

2024/10/22 更新 分类：科研开发 分享

本文基于高温烘烤下的可靠性测试结果，对窄金属与宽引线连接结构中的应力迁移（SM）现象展开了研究。

2024/11/30 更新 分类：科研开发 分享

DPA是一种通过对芯片进行破坏性拆解和分析，评估其设计、材料、工艺等方面潜在缺陷的可靠性测试方法。

2025/02/15 更新 分类：法规标准 分享

决定元器件测试筛选先后次序的原则：失效概率最大的筛选方法首先做；当一种失效模式可以与其他失效模式产生关联时，应将此失效模式的筛选放在前面；容易触发失效的筛选方法首先进行；便宜的先做；时间长的后做；若有耐电压、绝缘电阻测试要求，耐压在前、绝缘在后，功能参数最后；若有击穿电压和漏电流测试要求，击穿电压在前，漏电流在后，功能参数最后。

2021/07/13 更新 分类：科研开发 分享