最近笔者在复习FDA关于亚硝胺杂质的有关法规，发现在2021年3月29日至30日FDA有过一个关于亚硝胺杂质的研讨会，由FDA的药品审评和研究中心（CDER）组织全球的研究专家参与。相关内容在FDA官网可以找到。在微信上搜索了一下，没有找到相应的中文文章或者内容解读，于是笔者对这两天研讨论会内容仔细阅读之后，转译中心内容，以飨读者。限于笔者水平有限，如有不足，请多指正

2022/03/09 更新 分类：科研开发 分享

作者小组先前已经报道了两种简单且廉价的方法，用于从产品混合物中除去有机锡杂质。

2022/12/05 更新 分类：科研开发 分享

本文针对多肽药物有关物质（肽相关杂质1）分析方法开发进行探讨。

2023/06/16 更新 分类：科研开发 分享

本文以杂质线性截距为例说明截距的要求。

2023/06/20 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了清除因子及清除率计算及结果判断。

2023/08/30 更新 分类：法规标准 分享

巴尔的摩2014年6月16日沃特世公司（纽约证券交易所代码：WAT）今天在美国质谱协会(ASMS)第62届年会上推出了Waters Xevo G2-XS 质谱仪，这是一款新型高性能台式四极杆飞行时间(QTof)质谱仪。

2015/08/31 更新 分类：其他 分享

根据《中华人民共和国食品安全法》、《四川省食品安全地方标准管理办法》的规定，我委组织拟订了四川省食品安全地方标准《水果蔬菜中氯吡脲残留量的测定液相色谱-质谱/质谱法

2015/09/10 更新 分类：其他 分享

X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和 俄歇电子能谱 技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确

2016/07/08 更新 分类：实验管理 分享

笔者在宣称抗疲劳的保健食品中通过“异常色谱法”发现一种西地那非衍生物，通过高效液相色谱-串联质谱（LC-MS/MS）技术以及核磁共振氢谱（1H-NMR）技术对其结构进行解析，并结合国外文献分析，最终确定该化合物为去甲基卡波地那非

2019/04/29 更新 分类：检测案例 分享

通过TOF-SIMS对某连接器表面出现白点的位置进行分析，定性的分析了OK位置和NG位置上表面10nm以内成分，为连接器产生白点的原因作出合理的推断。

2018/05/23 更新 分类：科研开发 分享