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  • 表面贴装MOSFET产品上线芯片碎裂失效分析

    通过对经过SMT工艺试验的产品抽样进行超声扫描,发现产品载片区(PAD)与模塑料之间存在较为严重的离层现象

    2024/02/23 更新 分类:检测案例 分享

  • 谷歌发布了第六代TPU芯片

    谷歌云今天宣布即将推出迄今为止最强大、最节能的张量处理单元 Trillium TPU。

    2024/05/15 更新 分类:科研开发 分享

  • 苹果将发布新的UWB芯片

    苹果计划于明年推出第二代 AirTag,对其广受欢迎的物品追踪器进行重大升级。

    2024/05/20 更新 分类:科研开发 分享

  • 芯片巨头组团,向英伟达NVLink开战1

    据最新消息披露,包括AMD、博通(Broadcom)等在内的八家公司宣告,他们已经为人工智能数据中心的网络制定了新的互联技术UALink(Ultra Accelerator Link)。

    2024/05/31 更新 分类:科研开发 分享

  • 下一代芯片技术的重大突破

    本研究通过在原子水平上控制现有二维半导体的晶体结构,将其转化为一维 MTB,实现了一维 MTB 金属相。

    2024/07/05 更新 分类:科研开发 分享

  • 微通孔倒装焊芯片封装失效机制与改进策略

    本文探讨了宇航、车载和工业控制等行业数据处理需求增长,推动半导体技术向更高集成度发展。

    2024/10/18 更新 分类:科研开发 分享

  • 马斯克公司恢复视力的脑机接口芯片获FDA突破性认定

    近日,埃隆·马斯克旗下的脑机接口公司 Neuralink 宣布,其实验性大脑植入设备“盲视”(Blindsight)已获得美国 FDA 的“突破性设备”认定。

    2024/10/23 更新 分类:科研开发 分享

  • 芯片封装中引线键合互连特性分析

    本文研究了芯片封装中键合线的建模和模型参数提取方法。根据二端口网络参量,提出了单键合线的"型等效电路并提取了模型中的R、L和C参量。最后,设计出一个简单、低成本的测试结构验证了仿真分析结果。

    2021/07/07 更新 分类:科研开发 分享

  • 银浆沾污引起的芯片损伤机理分析

    本文利用扫描电镜和能谱仪对损伤部位的形貌、元素成分进行了分析,发现损伤部位存在不同程度的导电银浆残留物沾污,对沾污的来源及其对芯片损伤的机理进行了分析,并通过形貌对比分析,排除了开封过程引入损伤的可能性。结果对生产厂商重视相关工艺环节具有一定的参考价值。

    2021/12/21 更新 分类:科研开发 分享

  • 低功耗IC封装用绝缘胶漏电问题及解决办法

    本文对芯片异常、键合内引线异常、塑封应力大、芯片表面刮花和变形、固晶生产工艺缺陷、芯片本身缺陷以及静电引起的漏电问题进行了全面地分析和阐述,并根据多年的工作经验总结出了一些切实可行的解决办法。

    2022/02/07 更新 分类:科研开发 分享