来自山东大学的高学平和张爱敏两位研究人员在半导体材料表征中遇到能谱测试结果异常现象，异常现象产生原因可能与加速电压、电子束流、元素含量、原子序数、设备灵敏度等多种因素有关。为了准确了解异常现象产生的原因，并提出合理的解释，研究人员利用原子力显微镜(AFM)，蒙特卡洛模拟(Monte Carlo Simulation)软件以及扫描电镜配置的能谱仪等设备对此异常现象进行了分析

2020/10/14 更新 分类：实验管理 分享

粉体粒度是粉体材料的主要指标之一，它直接影响产品的工艺性能和使用性能。

2019/03/26 更新 分类：法规标准 分享

EMC传导测试的L线N线的测试结果差异大，一般都是什么原因，如何规避呢？

2024/12/06 更新 分类：科研开发 分享

静电放电可能会影响患者在临床应用场景中的区分，甚至破坏医疗器械。因此，静电放电抗扰度试验（ESD）属于电磁兼容性EMC中的EMS测试项目。在具体的电磁兼容测试中，静电放电试验一次性通过率很低，大部分商品都要整改。本文简要介绍了静电放电的干扰，介绍静电的原因及其影响，以眼科设备验光仪为例，分析了静电失效的原因，并采取了合理的改进措施。

2023/04/09 更新 分类：科研开发 分享

本文采用模块化设计，设计了一种基于STM32的2μm光纤激光器医疗仪控制系统，将水冷单元的参数监控、电源模块的抗干扰设计、输出功率的校准等集成于一体

2019/04/25 更新 分类：科研开发 分享

文本将根据锂电池的基本原理、前人的文献研究，再结合本文进行的过充测试，将理论和实际测试有机结合，通过一定程度的分析和推理，从大方向上把握锂电池过充测试不同阶段的本质原因。

2024/12/12 更新 分类：科研开发 分享

研究人员分析了采用机械接触式引伸计和激光非接触式引伸计全自动测量r值结果的差异，再通过试验论证了ISO标准中人工、半自动、全自动等方法测量金属薄板不同类型试样r值的结果差异。

2022/11/09 更新 分类：科研开发 分享

本文利用扫描电镜和能谱仪对损伤部位的形貌、元素成分进行了分析，发现损伤部位存在不同程度的导电银浆残留物沾污，对沾污的来源及其对芯片损伤的机理进行了分析，并通过形貌对比分析，排除了开封过程引入损伤的可能性。结果对生产厂商重视相关工艺环节具有一定的参考价值。

2021/12/21 更新 分类：科研开发 分享

连接器组装后运行出现短路的异常，该短路异常失效比例为50%，客户反馈异常批次使用的原料含40%的回收料。客户委托实验室进行比对测试，分析产生异常的原因如下：连接器所使用原料的不一致性使得连接器制品在电性能上产生差异，进而导致在组装后运行中出现短路现象。建议使用TGA手段进行原料监控，并严格把控回收料质量，以保障产品稳定。

2021/11/20 更新 分类：检测案例 分享

下文将以激光衍射法为例，讨论如何进行粒度标准制订。

2024/04/18 更新 分类：科研开发 分享