本文主要介绍防浪涌电路中的元器件之TSS以及一些常用的电路。

2024/12/01 更新 分类：科研开发 分享

本文主要介绍防浪涌电路中的元器件之PTC以及一些常用的电路。

2024/12/16 更新 分类：科研开发 分享

老化（Burn in）是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加环境应力，而环境应力筛选（ESS：Environment Stress Screen ）则不仅包括高温应力，还包括其他很多应力，例如温度循环、随机振动等，通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程，促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。

2021/11/02 更新 分类：科研开发 分享

正确有效地选择和使用电子元器件是提高电子产品可靠性水平的一项重要工作。

2018/11/07 更新 分类：科研开发 分享

元器件的储存可靠性以及储存期的长短主要与下列因素有关

2019/11/08 更新 分类：科研开发 分享

气密封装元器件可靠性要比非气密封装高一个数量级以上，气密封装元器件一般按军标、宇航标准严格控制设计、生产、测试、检验等多个环节，失效率低，多用于高可靠应用领域。

2020/03/02 更新 分类：科研开发 分享

大多数电子产品在一定的环境条件下存放一段时间后的质量通常会发生变化，元器件也不例外。当贮存超过了规定的期限，其质量和可靠性将不能保证，所以必须规定一个贮存期，也可以理解为食品安全的“保质期”。

2020/08/24 更新 分类：科研开发 分享

设计一款硬件电路，要熟悉元器件的基础理论，比如元器件原理、选型及使用，学会绘制原理图，并通过软件完成PCB设计，熟练掌握工具的技巧使用，学会如何优化及调试电路等。本文要大家分享如何完整地设计一套硬件电路设计的经验。

2021/07/01 更新 分类：科研开发 分享

电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。

2017/11/01 更新 分类：实验管理 分享

安全、效率、连接是汽车电子元器件的主要发展动因。

2018/03/03 更新 分类：生产品管 分享