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  • 半导体器件键合失效模式及机理分析

    本文通过对典型案例的介绍,分析了键合工艺不当,以及器件封装因素对器件键合失效造成的影响。通过对键合工艺参数以及封装环境因素影响的分析,以及对各种失效模式总结,阐述了键合工艺不当及封装不良,造成键合本质失效的机理;并提出了控制有缺陷器件装机使用的措施。

    2021/12/16 更新 分类:科研开发 分享

  • 我国新能源车面临关键器件空心化风险

    我国在电机驱动及控制系统方面,部分零部件和技术已实现国产化,拥有多项自主产权。但仍面临核心关键器件空心化的风险, IGBT (绝缘栅双极型晶体管)、芯片、薄膜电容、高性能

    2016/09/27 更新 分类:其他 分享

  • 关于热缩管的7个知识点

    热缩管在电路设计中并不是重要器件,但在电路中却肩负着保护电路与重要器件的作用。但只有根据合适的尺寸在选择热缩管,才能最大程度上实现对电路的保护。在本篇文章当中,小

    2017/04/22 更新 分类:其他 分享

  • 元器件主要失效机理

    元件的失效直接受湿度、温度、电压、机械等因素的影响。

    2016/06/22 更新 分类:生产品管 分享

  • 九种常见的元器件封装技术

    封装时主要考虑的因素,封装大致经过了如下发展进程

    2020/01/17 更新 分类:科研开发 分享

  • 电子元器件湿热试验

    湿热试验包括稳态湿热试验和耐湿试验,对电子元器件可靠性考核一般进行耐湿试验。

    2020/02/11 更新 分类:法规标准 分享

  • 电子元器件的降额应用和“二次”筛选

    本文只从降额应用和“二次”筛选等几个方面浅谈一些体会和经验,希望能对从事相关工作的人员有所帮助和借鉴。

    2020/03/27 更新 分类:科研开发 分享

  • 军用器件如何设计可靠性

    军品可靠性要求高,可靠性设计分析如何开展?军品的可靠性更关注什么呢?今天分析一篇军用器件的可靠性设计文章,供学习参考。

    2020/07/29 更新 分类:科研开发 分享

  • 元器件热设计中热阻介绍及散热路径图解

    本文介绍了热传递的主要三种形式(传导、对流和辐射)、散热路径热阻及热欧姆定律。

    2021/05/07 更新 分类:科研开发 分享

  • 电子元器件失效的常规分类、检测及案例分析

    本文介绍了极限应力的失效及电源浪涌电压引起的失效、传输线浪涌电压的失效、极限应力退化失效、临界极限应力的四大失效案例。

    2021/05/12 更新 分类:检测案例 分享