电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。

2017/11/01 更新 分类：实验管理 分享

随着集成技术和微电子封装技术的发展，电子元器件的总功率密度不断增长，而电子元器件和电子设备的物理尺寸却逐渐趋向于小型、微型化，特别是5G技术的落定。所产生的热量迅速积累，导致集成器件周围的热流密度也在增加，所以，高温环境必将会影响到电子元器件和设备的性能，这就需要更加高效的热控制方案。因此，电子元器件、电子设备的散热问题已演变成为当前电

2021/01/07 更新 分类：科研开发 分享

老化（Burn in）是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加环境应力，而环境应力筛选（ESS：Environment Stress Screen ）则不仅包括高温应力，还包括其他很多应力，例如温度循环、随机振动等，通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程，促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。

2021/11/02 更新 分类：科研开发 分享

瞬态器件是一种新兴的电子器件，其主要特征是在完成任务后可以通过化学或物理过程完全或部分溶解或分解构成材料，被认为是植入式器件的新研究方向。然而，瞬态器件的研究仍处于起步阶段，需要克服的挑战很多，尤其是瞬态能量器件的发展相对缓慢。

2022/02/20 更新 分类：科研开发 分享

美国斯坦福大学华人教授鲍哲南领导的团队在最新一期美国《国家科学院学报》上报告说，他们发明了一种柔性有机电子器件，用醋这样的弱酸性物质就可以无毒降解。这种电子器件未

2017/05/08 更新 分类：热点事件 分享

升额设计都是从明确所需要升额的参数开始。可以是寻找可以承受所要求温度范围的类似器件、修改或者控制器件使用环境、与供应商沟通获得在更宽范围使用的承诺等。只有这样才可以保证器件可以成功升额使用。

2018/06/06 更新 分类：行业研究 分享

正确有效地选择和使用电子元器件是提高电子产品可靠性水平的一项重要工作。

2018/11/07 更新 分类：科研开发 分享

元器件的储存可靠性以及储存期的长短主要与下列因素有关

2019/11/08 更新 分类：科研开发 分享

气密封装元器件可靠性要比非气密封装高一个数量级以上，气密封装元器件一般按军标、宇航标准严格控制设计、生产、测试、检验等多个环节，失效率低，多用于高可靠应用领域。

2020/03/02 更新 分类：科研开发 分享

大多数电子产品在一定的环境条件下存放一段时间后的质量通常会发生变化，元器件也不例外。当贮存超过了规定的期限，其质量和可靠性将不能保证，所以必须规定一个贮存期，也可以理解为食品安全的“保质期”。

2020/08/24 更新 分类：科研开发 分享