本文主要介绍了基于IGBT失效机理之应用技术:器件选用，输出逻辑可靠性，耦合电流路径及常见的两种情况是。

2021/12/23 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了MOSFET的击穿有哪几种，如何处理mos管小电流发热严重情况，MOS管为什么可以防止电源反接及MOS管功率损耗测量。

2022/05/19 更新 分类：科研开发 分享

本次就和大伙稍微探讨下ESD电流路径的分析，哪怕在为大家排查静电问题的时候提供一丝丝有益的思路，我就觉得没有白写。

2023/10/17 更新 分类：科研开发 分享

寄生参数主要来自于器件本身、PCB Layout设计、结构设计等，寄生参数引起的高频振荡、寄生电流环路是导致开关电源辐射发射问题的重要原因。

2024/04/17 更新 分类：科研开发 分享

静电放电试验主要检查人或物体在接触设备时所引起的放电（直接放电），以及人或物体对设备邻近物体的放电（间接放电）时对设备工作造成的影响。静电放电时可以在0.5～20ns的时间内产生1～50A的放电电流。虽然电流很大但因持续时间很短，故能量很小。所以一般静电放电不会对人产生伤害，但对集成电路芯片等电子产品可能产生破坏性的危害。

2020/11/16 更新 分类：法规标准 分享

磷酸铁锂（LFP）电池在常温环境中具有优异的电化学性能。常温环境中，电流密度为0.5 C 时，Ti4+ 掺杂的LiFePO4正极材料与碳包覆的LiFePO4首次放电比容量分别可达150 和160.2 mAh/g，并且循环过程中放电比容量保持稳定。放电电流密度为2C，温度为25℃时，碳包覆的LiFePO4放电比容量约为150mAh/g。

2021/01/19 更新 分类：科研开发 分享

决定元器件测试筛选先后次序的原则：失效概率最大的筛选方法首先做；当一种失效模式可以与其他失效模式产生关联时，应将此失效模式的筛选放在前面；容易触发失效的筛选方法首先进行；便宜的先做；时间长的后做；若有耐电压、绝缘电阻测试要求，耐压在前、绝缘在后，功能参数最后；若有击穿电压和漏电流测试要求，击穿电压在前，漏电流在后，功能参数最后。

2021/07/13 更新 分类：科研开发 分享

近期，欧盟方面就公布了家用电器、电动工具和类似器具的电磁兼容骚扰要求标准EN/IEC55014-1：2021、抗干扰标准EN/IEC55014-2：2021、每相输入电流小于等于16A的设备谐波电流发射限值标准EN/IEC 61000-3-2：2019+A1：2021。

2022/02/13 更新 分类：法规标准 分享

本文采用脉冲钨极氩弧焊(P-TIG)对规格为ϕ14mm×2mm的0Cr18Ni9钢管进行焊接，研究50%脉宽比以及不同基值电流(20~30A)、峰值电流(40~60A)、脉冲频率(0.3，0.5Hz)下接头的组织及拉伸性能。

2022/04/29 更新 分类：科研开发 分享

案例1：大电流导致器件金属融化 某产品在用户现场频频出现损坏，经过对返修单板进行分析，发现大部分返修单板均是某接口器件失效，对器件进行解剖后，在金相显微镜下观察，发

2016/01/25 更新 分类：检测案例 分享