电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。

2017/11/01 更新 分类：实验管理 分享

实验室信息管理系统所需的网络和硬件基础设施不同于实验室信息管理系统所需的软件及功能，根据选择的部署方式(集中式、区域式、分布式)，配置不同的网络和设备资源。

2018/05/30 更新 分类：实验管理 分享

提到硬件开发，华为无疑是制造业的领导者，分享一些华为开发的文章，供研发人士参考。 第一期内容： 1、文档，评审，设计。 2、华为的硬件领域的人员构成： 3、华为的流程 详见

2018/11/05 更新 分类：科研开发 分享

本文总结了感存算一体化智能成像系统中使用的两种不同类型的架构（即在传感单元内或附近进行计算），然后讨论了未来的发展方向（包括与算法匹配的架构、3D集成技术、新型材料和先进器件）。总之，感存算一体化智能成像系统的最终目标是实现更高效的AI硬件，该硬件系统具有低功耗、高速、高分辨率、高识别准确率和大规模集成的特点，同时具有可编程性。

2023/01/06 更新 分类：科研开发 分享

辐照测试标准 辐照测试机构

2015/12/28 更新 分类：法规标准 分享

弯折测试、硬度测试、耐醇性测试、百格测试、耐磨测试

2019/03/19 更新 分类：法规标准 分享

本文介绍了电视机EMC测试的参考标准和测试项目。

2021/04/30 更新 分类：法规标准 分享

本文就针对阻尼的定义、阻尼测试标准、阻尼测试设备和阻尼应用等多方面进行简单介绍。

2022/08/26 更新 分类：法规标准 分享

本文介绍了什么是水滴角测试及水滴角衡量指标与测试方法。

2023/04/06 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了开关电源测试项目与测试方法。

2023/12/08 更新 分类：法规标准 分享