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  • 半导体的ESD失效特性及防护能力影响

    自然界中充斥着静电。对于集成电路行业,每一颗芯片从最开始的生产制造过程、封装过程、测试过程、运输过程到最终的元器件的焊接、组装、使用过程,几乎时刻都伴随着静电,在任何一个环节静电都有可能对芯片造成损伤。

    2022/07/21 更新 分类:科研开发 分享

  • 检测领域将成半导体及电机产业核心

    若欲确立差异性,关键在于不断升级检测精确度,早一步因应如雨后春笋般的新产品、新技术。

    2015/11/18 更新 分类:行业研究 分享

  • LED灯常用检测标准

    LED(Light Emitting Diode),发光二极管,是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件,它可以直接把电转化为光

    2018/07/18 更新 分类:法规标准 分享

  • 日立化成曝出半导体材料造假

    日立化成承认在过去7年多的时间内,曾伪造工业用铅酸蓄电池质量测试的数据,影响约500家公司近6万项产品。

    2018/10/30 更新 分类:热点事件 分享

  • 量子点墨水粘度检测方法

    本文使用DV2T锥板粘度计+TC-650 AP循环水浴系统(如图1所示)测试一种量子点墨水(用户提供)在25℃条件下的粘度。

    2019/02/26 更新 分类:法规标准 分享

  • 高性能碳化硅单晶及在新型显示中的应用

    碳化硅(SiC)被认为是半导体材料中最具有前途的材料之一

    2019/02/22 更新 分类:科研开发 分享

  • 做应力测试时该如何选择应变片

    对于个位数级别微应变测量,正确的选择是采用箔式电阻应变片。尽管半导体应变片有很好的稳定性,但其在一定条件下容易产生很多误差,如温度变化以及光线变化。

    2020/12/12 更新 分类:法规标准 分享

  • 过电应力的主要失效模式与机理分析

    本文通过模拟过电应力(静电、浪涌、直流)来分析半导体器件在各种极端电应力环境下失效的现象和机理,及如何利用好TVS降低过电应力危害。

    2021/11/24 更新 分类:科研开发 分享

  • IGBT的损耗与结温计算

    本文将简单说明如何测量功耗并计算二极管和 IGBT 芯片的温升。

    2023/04/26 更新 分类:科研开发 分享

  • CMOS静电和过压问题

    对于模拟CMOS(互补对称金属氧化物半导体)而言,两大主要危害是静电和过压(信号电压超过电源电压)。了解这两大危害,用户便可以有效应对。

    2023/05/07 更新 分类:科研开发 分享