GJB 899A-2009规定了系统或设备的可靠性鉴定试验要求，并提供可靠性验证试验的统计试验方案（指数分布）、参数估计和确定综合环境条件的方法以及可靠性验证试验的实施程序。

2020/07/17 更新 分类：科研开发 分享

本文以水下航行器电子设备为对象，采用基于失效物理的可靠性方法，通过预计仿真,研究其在温度、相对湿度、温升、振动、循环次数、功耗等因素变化下对可靠性的影响。其次采用响应面、Kriging（克里格）、正交多项式等方法进行近似建模，可快速分析环境因素对可靠性的影响，提高分析效率，促进优化和改进设计。

2020/12/30 更新 分类：科研开发 分享

可靠性工程师大部分人主要工作就是环境试验，而我也是从环境试验开始我的可靠性生涯，对于环境试验一直保有很深的感情，尽我的可能把做些总结和大家分享是件乐事，希望对大家

2016/08/03 更新 分类：生产品管 分享

本篇主要介绍导致电子产品失效的几种主要环境应力。

2021/04/07 更新 分类：生产品管 分享

业界同行对LED光源的可靠性和成本问题比较重视，均在努力解决之中。本文也将着重对这两个问题进行较为详细的描述及分析。

2020/01/19 更新 分类：法规标准 分享

作为您可靠的质量服务合作伙伴,，本中心提供纺织品可靠性试验，以确保你的产品质量。

2017/04/22 更新 分类：实验管理 分享

芯片的寿命试验HTOL（high temperature operation life）测试，曾经被认为某个芯片通过了HTOL 测试之后，就能够达到10年的寿命要求，其实不然。本文介绍了其主要原因。

2021/05/20 更新 分类：科研开发 分享

该文对三种Tg测试方法、测试原理及各自优劣进行了比较；分析了板材Tg值对PCB可靠性的影响，以及Tg的影响因素。

2021/06/15 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了浪涌测试及其意义，国内外SiC MOSFET浪涌性能的研究现状及浪涌测试原理概述等。

2023/03/17 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了使用动态栅极应力(Dynamic Gate Stress, DGS)测试过程对基于SiC的功率半导体进行新型可靠性测试的意义。

2024/03/20 更新 分类：科研开发 分享