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  • 投射电子显微镜样品制备中载网的选择技巧

    本文将详细讨论在TEM样品制备中如何选择恰当的载网。

    2024/11/04 更新 分类:实验管理 分享

  • 美国西北大学JACS:在聚合物纳米反应器中,无窗观察Au-Pt纳米粒子蒸发诱导粗化

    【引言】 纳米粒子和溶剂之间的相互作用,对于形成复亚稳态纳米结构非常重要。但是采用传统的液体电池透射电子显微镜(TEM),直接观察是非常困难的。那么如何才能观察到纳米粒

    2018/06/11 更新 分类:科研开发 分享

  • 化金板焊接不良失效分析与改善方法案例分析

    本文对一批产品软板上SMT元件焊接后易脱落,不良率约为3.3%,PCB焊盘上的断裂面在电子显微镜下观察,表现为平整的断裂面的案例进行了解析。

    2021/05/26 更新 分类:检测案例 分享

  • 齿圈螺栓断裂失效分析案例分享

    通过化学成分、金相检验和扫描电子显微镜等方法对齿圈螺栓进行分析,结果表明:齿圈螺栓断裂是由于氢脆延迟断裂而造成的。针对断裂原因分析了氢脆产生的原因和采取预防措施。

    2021/10/12 更新 分类:检测案例 分享

  • 透射电镜TEM中如何正确制样和选择载网?

    电子显微镜(EM)的重要性不言而喻,但是想要适得其用却并不容易。本文从样品的制备、载网的选择,到仪器的操作与使用,再到图像和数据的分析进行介绍。

    2023/10/08 更新 分类:科研开发 分享

  • Zirlo合金和M5合金的微观组织和微区成分

    研究人员利用高分辨透射电子显微镜和能谱仪对Zirlo合金和M5合金进行了微观组织和微区成分分析,结果对将来更好地研发和应用锆合金具有重要意义。

    2024/07/30 更新 分类:科研开发 分享

  • 硅基低压MOSFET器件漏电失效分析

    本文通过采用热点分析和聚焦离子束-扫描电子显微镜(FIB-SEM)技术,提出了一种高效的检测手段,用以快速识别和分析沟槽MOSFET器件在电学性能和膜层结构上的失效。

    2024/08/21 更新 分类:检测案例 分享

  • 全方位认识扫描电子显微镜

    扫描电子显微镜,是自上世纪60年代作为商用电镜面世以来迅速发展起来的一种新型的电子光学仪器,被广泛地应用于化学、生物、医学、冶金、材料、半导体制造、微电路检查等各个研究领域和工业部门。

    2017/03/06 更新 分类:实验管理 分享

  • 射电子显微镜TEM的原理,样品制备等基本知识介绍

    透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。

    2020/09/25 更新 分类:实验管理 分享

  • RoHS指令豁免清单附件IV获修订

    2016年4月16日,欧盟官方公报(OJ)正式发布欧盟委员会指令(EU)2016/585,修订RoHS2.0(2011/65/EU)指令的附件IV中第31条,关于豁免医疗器械和电子显微镜中回收或用于维修、翻新的备用部件中铅、镉、六价铬和多溴联苯醚的要求。

    2016/05/12 更新 分类:法规标准 分享