尽管HBM模型和IEC61000-4-2标准所模拟的ESD来源都是外部带静电的人体或物体，但两种标准面向的被放电的具体对象是不同的，并且他们的测试要求有几个最重要的差别值得注意。

2023/04/26 更新 分类：法规标准 分享

半导体器件在制造、测试、存储、运输及装配过程中，仪器设备、材料及操作者都很容易因摩擦而产生几千甚至上万伏的静电电压。当器件与这些带电体接触时，带电体就会通过器件引脚进行放电，从而可能导致器件的损伤。

2017/11/08 更新 分类：法规标准 分享

静电放电试验主要检查人或物体在接触设备时所引起的放电（直接放电），以及人或物体对设备邻近物体的放电（间接放电）时对设备工作造成的影响。静电放电时可以在0.5～20ns的时间内产生1～50A的放电电流。虽然电流很大但因持续时间很短，故能量很小。所以一般静电放电不会对人产生伤害，但对集成电路芯片等电子产品可能产生破坏性的危害。

2020/11/16 更新 分类：法规标准 分享