评价、分析产品寿命特征的试验称为寿命试验，它是可靠性鉴定与验收试验中最重要的一类试验。

2019/09/06 更新 分类：科研开发 分享

近年来，可靠性加速试验中的高加速应力试验（HAST，highly accelerated stress test）及极限应力试验（Limil test）技术不断发展，为考核产品质量和可靠性，快速暴露产品的设计和制造缺陷，提高其可靠性提供了强有力的工具。

2017/07/14 更新 分类：法规标准 分享

在临床试验中，稽查是一项重要的质量保证措施，用于评估试验的合规性和数据的可靠性。

2024/02/05 更新 分类：科研开发 分享

寿命试验是可靠性试验中最重要、最基本的内容之一。它是将样品放在特走的试验条件下，测量其失效（损耗）的数量随时间的分布情况。因为失效是按先后次序出现的，所以可利用次序统计量理论来分析寿命试验数据，从而可以确定产品的寿命特征、失效分布规律，计算产品的失效率和平均寿命等可靠性指标。此外，还可以从中确定产品合理的可靠性筛选工艺及条件，进一步改

2021/01/23 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了可靠性试验所需设备，包括步入式温湿度试验箱，太阳辐射箱，盐雾试验箱等设备。

2021/05/24 更新 分类：科研开发 分享

可靠性测试中的HALT实验与HASS实验 HALT HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。

2015/11/26 更新 分类：实验管理 分享

产品可靠性的合同指标一般包括规定值和最低可接受值。规定值是合同和研制任务书中规定的期望达到的指标，是承制方进行可靠性设计的依据。

2019/03/21 更新 分类：科研开发 分享

本文提出了包括内外场结合法、加速可靠性试验法、合并试验剖面法等多种工程方法，来降低承研单位的可靠性验证费用支出，并结合案例阐明了本文方法的有效性。

2020/02/26 更新 分类：科研开发 分享

LED具有体积小，耗电量低、长寿命环保等优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行*价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量。

2016/04/27 更新 分类：实验管理 分享

在可靠性强化试验中，快速温变循环是常用的强化试验。

2016/08/03 更新 分类：实验管理 分享