您当前的位置:检测预警 > 栏目首页
本文将简单说明如何测量功耗并计算二极管和 IGBT 芯片的温升。
2023/04/26 更新 分类:科研开发 分享
对于模拟CMOS(互补对称金属氧化物半导体)而言,两大主要危害是静电和过压(信号电压超过电源电压)。了解这两大危害,用户便可以有效应对。
2023/05/07 更新 分类:科研开发 分享
量子计算提供了一系列工具和解决方案,可以推动半导体行业的发展。其中包括提高芯片安全性、加快新材料的发现、优化芯片设计和模拟量子效应。
2023/12/14 更新 分类:科研开发 分享
寄生电容一般是指电感绕线间、芯片引脚之间、功率半导体引脚之间在高频情况下表现出来的电容特性。
2024/03/08 更新 分类:科研开发 分享
非线性是如何产生的,为什么会引起增益压缩,如何测试1dB增益压缩点,这将是下文要重点介绍的内容。
2024/04/30 更新 分类:科研开发 分享
本研究通过在原子水平上控制现有二维半导体的晶体结构,将其转化为一维 MTB,实现了一维 MTB 金属相。
2024/07/05 更新 分类:科研开发 分享
对半导体晶圆在湿法清洗工艺中可能导致的各种缺陷成因进行分析,并对缺陷的处理方式做了简要探讨。
2024/10/17 更新 分类:科研开发 分享
本文探讨了宇航、车载和工业控制等行业数据处理需求增长,推动半导体技术向更高集成度发展。
2024/10/18 更新 分类:科研开发 分享
在半导体世界中,了解芯片内部结构是至关重要的,它不仅关系到芯片的性能,也是工程师们在故障分析、制造工艺优化和新材料研究方面的重要工具。
2024/11/11 更新 分类:科研开发 分享
金刚石以其无与伦比的硬度和亮度而闻名,半个多世纪以来,珠宝首饰是它最广泛也是最有价值的用途,如今它又因自己的特性,在半导体材料中开辟了一番广阔的前景。
2024/05/29 更新 分类:行业研究 分享