本文介绍了电子可靠性设计原则、规范、可靠性测试、元器件选型及元器件失效机理与分析方法。

2023/05/17 更新 分类：科研开发 分享

降额设计的定义：设计时元器件或设备工作时承受的工作应力适当低于元器件或者设备规定的额定值，从而达到降低基本失效率，提高使用可靠性的目的。

2023/10/16 更新 分类：科研开发 分享

本文主要介绍防浪涌电路中的元器件之气体放电管以及一些常用的电路。

2024/11/03 更新 分类：科研开发 分享

本文主要介绍防浪涌电路中的元器件之TSS以及一些常用的电路。

2024/12/01 更新 分类：科研开发 分享

本文主要介绍防浪涌电路中的元器件之PTC以及一些常用的电路。

2024/12/16 更新 分类：科研开发 分享

老化（Burn in）是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加环境应力，而环境应力筛选（ESS：Environment Stress Screen ）则不仅包括高温应力，还包括其他很多应力，例如温度循环、随机振动等，通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程，促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。

2021/11/02 更新 分类：科研开发 分享

正确有效地选择和使用电子元器件是提高电子产品可靠性水平的一项重要工作。

2018/11/07 更新 分类：科研开发 分享

元器件的储存可靠性以及储存期的长短主要与下列因素有关

2019/11/08 更新 分类：科研开发 分享

气密封装元器件可靠性要比非气密封装高一个数量级以上，气密封装元器件一般按军标、宇航标准严格控制设计、生产、测试、检验等多个环节，失效率低，多用于高可靠应用领域。

2020/03/02 更新 分类：科研开发 分享

大多数电子产品在一定的环境条件下存放一段时间后的质量通常会发生变化，元器件也不例外。当贮存超过了规定的期限，其质量和可靠性将不能保证，所以必须规定一个贮存期，也可以理解为食品安全的“保质期”。

2020/08/24 更新 分类：科研开发 分享