粒子径的测定方法

• 适合测定粒径的范围：10~5000μm

• 基本原理及特征

在涂抹一层厚矽胶油的玻璃板上接住雾气，迅速摄下放大照片，再从照片上计算每种尺寸粒子数。

该方法实际捕集测定粒子，比较不受测定调节（距离、粒子密度等）的影响，而且粒子浮游在矽胶油中，所以可以在真圆的状态下测定。

但是，由于不能破坏矽胶油表面张力的 微粒子，全部都在油表面就蒸发掉，所以用液浸法测定的微雾及超微雾之平均粒径，远比实际还大。

镭射法分弗兰霍尔折射法和托普勒法。

• 适合测定粒径的范围：1~1000μm

• 基本原理及特征

雷射光路线上若存在喷雾粒子，雷射光线就在粒子表面散乱，应用散乱光线干扰在其后方结合折射像的原理（弗兰霍尔折射）。该方法可同时测定存在雷射光线通路上的所有粒子，但粒子密度过高时，则会发生一度散乱的雷射光线，再度被别的粒子散乱的现象（多重散乱），所以显得比实际粒径小。

• 适合测定粒径的范围：0.5~2500μm

• 基本原理及特征

使二条雷射光线交叉，形成干扰光线条纹。

该方法是在离一定距离的多数受光器，以感应出通过此干扰光线条纹粒子所产生的散乱光线时的位相差来计算粒径。

因为是测定各个粒子，所以比较不易受粒子密度的影响，且能同时测定粒子的速度。