LED具有体积小，耗电量低、长寿命环保等优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量。

2020/08/18 更新 分类：科研开发 分享

工作中经常遇到有人对加速寿命试验不清楚，包括方法、范围、条件等，还有人对加速寿命试验和高加速寿命试验更是一笔糊涂账，今天本文简要介绍相关知识，供交流参考

2020/11/12 更新 分类：科研开发 分享

高加速试验一般分为高加速寿命试验和高加速应力应力筛选试验，高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。

2023/02/27 更新 分类：法规标准 分享

高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种通过施加逐级递增的环境应力或工作载荷，来加速暴露产品的缺陷和薄弱点的试验方法。

2024/08/07 更新 分类：实验管理 分享

评价、分析产品寿命特征的试验称为寿命试验，它是可靠性鉴定与验收试验中最重要的一类试验。

2019/09/06 更新 分类：科研开发 分享

加速寿命试验是可靠性试验中的一项重要的试验方法。采取加速寿命试验的作用在于加快试验进程，为预测系统或设备的可靠度提供重要的依据。

2020/03/11 更新 分类：科研开发 分享

该研究主要探讨无创自动测量血压计的寿命试验方法及试验装置研制，经调试与验证，该寿命试验装置可准确可靠地对无创自动测量血压计实施10000次压力循环试验及1000次袖带开合试验，具有较高的实用价值。

2021/05/01 更新 分类：科研开发 分享

为了快速发现LED光源模块的失效点和薄弱点，通常采用加速寿命试验对其进行可靠性研究试验

2015/11/26 更新 分类：实验管理 分享

本文主要介绍了可靠性强化加速寿命试验标准、实施流程与典型应力类型。

2022/02/09 更新 分类：科研开发 分享

本文对YH400-G50型车端连接器进行寿命评估。

2022/08/26 更新 分类：科研开发 分享